在第一性原理计算领域,VASP被广泛应用于材料电子结构的精细研究。其中,态密度Density of States,DOS分析是揭示体系能级分布特征和电子行为的关键方法之一。态密度图的形状、结构与分辨率直接影响对金属、半导体、绝缘体等材料性质的判断。但实际操作中,态密度计算常常出现“图像异常”“数据不连贯”“分辨率不足”等问题,影响最终的研究结论。本文将围绕“VASP态密度分析有哪些步骤”以及“VASP态密度图显示异常如何修复”两个核心问题展开说明,并给出详细操作流程与常见问题处理方法。
2025-09-24